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MC-2010A型涂（鍍）層測厚儀

MC-2010A型涂層測厚儀工作原理：MC-2010A型涂（鍍）層測厚儀采用電磁感應法測量涂（鍍）層的厚度。位于部件表面的探頭產生一個閉合的磁回路，濕膜片測厚儀，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以準確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂（鍍）層厚度。

產品性能

MC-2010A型涂鍍層測厚儀技術參數

1、測量范圍：0~1200um

2、測量誤差：<3%±1um

4、顯示方式： 4位液晶數字顯示

5、主要功能：

  (1).測量：內置探頭全量程測厚

  (2).統(tǒng)計：設有三個統(tǒng)計量：平均值

  (3).校準：可進行零點校準、兩點校準及系統(tǒng)校準

  (4).電量：具有欠壓顯示功能

  (5).蜂鳴提示：操作過程中有蜂鳴提示

  (6).關機：具有自動關機和手動關機兩種方式

6、電源：  兩節(jié)1.5v電池

8、外形尺寸：115mm*45mm*25mm

10、使用環(huán)境溫度：　0℃~+40℃  相對濕度：不大于90%

13、曲率半徑： 凸:1.5mm      凹:6mm

14、欠電壓指示：   右上角顯示＂＂

*臨界厚度值：工件鐵基厚度大于1mm時，其涂（鍍）層厚度的測量不受鐵基厚度影響。

水下超聲波測厚儀UMX-2

美國DAKOTA ULTRASONICS公司水下測厚儀UMX-2

探頭選擇

型號:PT-174-2006

頻率:5.0MHz

探頭晶片直徑:φ12.7mm

測量范圍說明:1.27～508mm

美國DAKOTA ULTRASONICS公司水下測厚儀UMX-2

探頭選擇

型號:PT-174-2006

頻率:5.0MHz

探頭晶片直徑:φ12.7mm

測量范圍說明:1.27～508mm

EPK MiniTest 720/730/740涂層測厚儀MiniTest 720/730/740涂層測厚儀

-創(chuàng)新的SIDSP（探頭內部數字信號處理）技術提升了測量的精準性

-測量范圍達15mm，可更換F、N或FN探頭，供內置或外接探頭使用

-FN探頭自動識別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，電解式測厚儀，操作方便不易出錯

MMiniTest 720/730/740涂層測厚儀優(yōu)點一覽：

-SIDSP使測量不受干擾，測值更加精準

-可更換探頭使用更加靈活（MINITEST 740探頭可由內置換為外置）

-FN探頭自動識別基體，使測量更迅速，測厚儀，避免操作錯誤

-溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤

-生產過程中50點校準使儀器獲得高精準度的特征曲線

-大存儲量，能存儲10或100組多達100，000個讀數

-讀數和統(tǒng)計值能單獨調出

-超大，背光顯示屏，菲尼克斯測厚儀，顯示內容可180度旋轉

-菜單指引操作，25種語言可選

-帶IrDA接口，紅外線傳輸數據到打印機和PC

-可下載更新軟件